Начало
Технически Университет
msdn academic alliance - FETT
Форум ТУ-София
Alldatasheet
Качете своите материали тук
Папка с вашите материали
BEST
Учебен План (PDF)
Home Sweet Home
Приложения
Клипчета
Архив

ФЕТТ - Електроника - 47

Информация за рефератите по КНЕА

КНЕА Тема на реферата на група 42: Надеждност Материал за подготовка: 19065653-Reliability-for-Begineers.pdf

Пореден № | Фак. № | Подтема | Стр. от-до | Изрегли в желания формат
1 | 101207100 | A Brief Introduction to Probability Theory and Statistics | 11-16 | REL-01.doc REL-01.ppt
2 | 101207015 | Statistical Distributions used in Reliability Analysis | 16-23 | REL-02.pdf REL-02.ppt
3 | 101207151 | The Log-Normal Distribution | 23-29 | REL-03.pdf REL-03.ppt
4 | 101207138 | Burn-In - Introduction | 31-36 | REL-04.doc REL-04.ppt
5 | 101206036 | Burn-In Documents | 36-40 | REL-05.pdf REL-05.ppt
6 | 101207093 | Reliability after Burn-In | 40-48 | REL-06.doc REL-06.ppt
7 | 101207056 | A Physics- Of – Failure Approach to Burn –In | 48-51 | REL-07.doc REL-07.ppt
8 | 101207113 | MIL-HDBK-217 vs. HALT/HASS | 53-58 | REL-08.doc REL-08.ppt
9 | 101206051 | A New System-Reliability Assessment Methodology | 59-68 | REL-09.doc REL-09.ppt
10 | 101207057 | Initial Assessment | 68-74 | REL-10.doc REL-10.ppt
11 | 101207007 | Reliability Design Improvement Methods | 77-85 | REL-11.doc REL-11.ppt
12 | 101207025 | Cost Analysis | 87-94 | REL-12.doc REL-12.ppt
13 | 101207014 | Warranty Cost Analysis | 94-96 | REL-13.doc REL-13.ppt
14 | 101207003 | Accelerated Life Testing Data Analysis | 97-104 | XXX-00.pdf XXX-00.ppt
15 | 101207072 | How do you fit an acceleration model? | 104-109 | REL-15.doc REL-15.ppt
16 | 101207077 | How to fit an Arrhenius Model with Graphical Estimation | 113-118 | XXX-00.pdf XXX-00.ppt
17 | 101206014 | Illustrating the MLE Method Using the Normal Distribution | 118-121 | REL-17.doc REL-17.ppt
18 | 101206094 | Examples of Reporting for Parametric Data Analysis | 122-127 | REL-18.doc REL-18.ppt
19 | 101207024 | Electronic Devices Example | 127-134 | REL-19.rtf XXX-00.ppt
20 | 101207154 | Highly Accelerated Testing | 137-142 | XXX-00.pdf XXX-00.ppt
21 | 101207110 | Equipments Required | 142-146 | REL-21.pdf REL-21.ppt
56 | 101207111 | Reliability Standards & Handbooks | 307-313 | REL-56.doc REL-56.ppt
57 | 101207116 | MIL-STD-2074 Failure Classification for Reliability Testing | 313-321 | XXX-00.pdf XXX-00.ppt
|  | Материали : S09_05_conductive_atomic_force_microscopy_application.pdf |  |
1 | 101207103 | Conductive Atomic Force Microscopy Application for Semiconductor Failure Analysis in Advanced Nanometer Process | 1-4 | CAF-01.doc CAF-01.ppt

Когато сте готови с рефератите, ми ги изпратите на e-mail d.m.iliev@gmail.com Важно е файловете които ми изпращате да са в стандартни формати: *.ppt , *.doc , *.rtf , *.pdf Имената на файловете образувайте по следния начин: REL-XX_ YYY.rtf и RELXX_YYY.pdf или SPC-XX_YYY.rtf и SPC-XX_YYY.pdf, в зависимост от това кой материал ползвате, като XX- означава поредния ви номер , а YYY – вашите инициали (първите букви на трите ви имена), записани с главни латински букви.